專注、創(chuàng)新、認真、專業(yè)
貝拓科學攜旗下光學接觸角測量儀、白光干涉薄膜厚度測量儀、表面張力儀、顯微拉曼光譜儀、手持式拉曼光譜儀及納米粒度儀,在上海慕尼黑上海分析生化展正式亮相!
讓我們來看看上海慕尼黑上海分析生化展的現(xiàn)場吧!
展會期間,貝拓科學的產(chǎn)品也得到了行業(yè)人士的關(guān)注和認可!
貝拓接觸角測量儀DSA-X PLUS
應用:
●評價表面處理的效果
●粘合與涂層過程中粘附力與穩(wěn)定性研究
●塑料、玻璃、陶瓷、紙張等材料的潤濕性測試
●半導體芯片的質(zhì)量控制
●表面潔凈度測試
功能:
●動靜態(tài)接觸角測量
●固體表面自由能及其組成的計算
●懸滴法測量液體的表面/界面張力
●計算及分析粘附功
●粘合與涂層過程中粘附力與穩(wěn)定性研究
白光干涉測厚儀
白光干涉儀利用薄膜干涉光學原理,對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光,用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。
納米粒度儀
特點
1、 采用光子計數(shù)級的高精度光電倍增管。暗計數(shù)低、光纖耦合,高速,高穩(wěn)定性。
2、 采用集成的光子相關(guān)器?;?/span>FPGA的光子相關(guān)器,集成雙通道光子計數(shù)器,確保光子無遺漏;1000個物理通道,提供充足的測量數(shù)據(jù);小100ns采樣時間,確保低至1nm顆粒的測量;芯片內(nèi)模塊集成設計,保證高速、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)處理流程。
3、 準確的溫控系統(tǒng)?;?/span>PWM的高精度溫控系統(tǒng),精度達到0.5°C,確保測量準確。
而貝拓科學的現(xiàn)場工作人員本著專業(yè)、認真和周到的服務,認真的解答的前來咨詢客戶的問題,使得我們的展位客戶絡繹不絕,成為展會上一到亮麗的風機線!
貝拓學科在此再次感謝新老客戶的信任與支持!
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